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Projecto para o Teste e Depuração com Base nas Arquitecturas IEEE 1149.1 e 1149.4
| dc.contributor.author | Alves, Gustavo R. | |
| dc.contributor.author | Ferreira, Jose M. | |
| dc.date.accessioned | 2017-03-29T10:33:01Z | |
| dc.date.available | 2017-03-29T10:33:01Z | |
| dc.date.issued | 1999 | |
| dc.description.abstract | A infraestrutura Boundary Scan Test (BST), definida na norma IEEE 1149.1, tem sido tradicionalmente utilizada para o teste estrutural de Cartas de Circuito Impresso (CCI) na fase de produção [1, 2]. O seu aparecimento deveu-se, entre outras razões, à crescente dificuldade das tradicionais tecnologias de teste de CCI (o teste in-circuit e o teste funcional) em lidar com os novos tipos de encapsulamento de Circuitos Integrados (CI) e com a sua crescente complexidade. A utilização de CI de montagem superficial veio reduzir o distanciamento entre os pinos e permitir a montagem de componentes em ambos os lados da CCI, dificultando assim o acesso físico requerido pelo teste incircuit. A crescente complexidade veio por sua vez dificultar a propagação de valores no interior da CCI, diminuindo assim a qualidade do teste funcional | pt_PT |
| dc.description.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | pt_PT |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10400.22/9737 | |
| dc.language.iso | por | pt_PT |
| dc.subject | Teste por varrimento periférico | pt_PT |
| dc.subject | Projecto para a depuração | pt_PT |
| dc.title | Projecto para o Teste e Depuração com Base nas Arquitecturas IEEE 1149.1 e 1149.4 | pt_PT |
| dc.type | conference object | |
| dspace.entity.type | Publication | |
| oaire.citation.conferencePlace | Porto, Portugal | pt_PT |
| oaire.citation.title | 1as Jornadas Científicas do Instituto Superior de Engenharia do Porto (ISEP) | pt_PT |
| person.familyName | Alves | |
| person.givenName | Gustavo | |
| person.identifier | 150015 | |
| person.identifier.ciencia-id | 4210-4DF2-5206 | |
| person.identifier.orcid | 0000-0002-1244-8502 | |
| person.identifier.rid | I-7876-2014 | |
| person.identifier.scopus-author-id | 7006053908 | |
| rcaap.rights | openAccess | pt_PT |
| rcaap.type | conferenceObject | pt_PT |
| relation.isAuthorOfPublication | 01800568-7eaf-41d9-b78d-cf64f7c7381d | |
| relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery | 01800568-7eaf-41d9-b78d-cf64f7c7381d |