Publicação
Development of a DPI-C Test Environment
| datacite.subject.fos | Automação e Sistemas | pt_PT |
| dc.contributor.advisor | Gericota, Manuel Gradim de Oliveira | |
| dc.contributor.author | Vieira, Orlando Pedro Cardoso | |
| dc.date.accessioned | 2019-06-27T13:06:50Z | |
| dc.date.available | 2021-11-15T01:30:29Z | |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.description.abstract | Fruto da evolução tecnológica, a integração de sistemas com milhares de milhões de transístores num único circuito integrado conduziu a um aumento da complexidade dos projetos digitais. Consequentemente, o esforço/tempo necessário para o desenvolvimento destes ´e maior, tal como a probabilidade da existência de erros de hardware. De forma a evitar passar esses erros para o silício, a Synopsys, uma empresa líder em Automação de Projetos Eletrónicos (Eletronic Design Automation - EDA), e em IP (Intellectual Property), e uma das empresas responsáveis por esta evolução tecnológica, tem uma equipa de IP Prototyping Kit (IPK), que cria protótipos rápidos dos circuitos IP em sistemas baseados em Field Programmable Gate Arrays (FPGA) e outras plataformas. Durante a integração do sistema em FPGA são usadas simulações/ testbenchs em SystemVerilog (SV) e testadas as plataformas de hardware de forma a ajudar no desenvolvimento do projeto e sua depuração. O IPK permite a integração do software e do hardware numa etapa inicial do projeto. Contudo, a prototipagem pode ser um processo complicado e demorado. Para auxiliar os engenheiros a acelerar o desenvolvimento, foi proposta a criação de um ambiente de teste baseado em C, batizado de DPIC (Direct Programming Interface em C), compatível com SystemVerilog e com as plataformas de hardware para testes. Este ambiente, também chamado de C-Tests, usa o mesmo caso de estudo como parâmetro de entrada para as duas plataformas. O objetivo ´e obter o mesmo resultado em ambas, facilitando a sua comparação e o diagnóstico e resolução de qualquer problema existente. | pt_PT |
| dc.description.abstract | Due to the technological evolution, chip integration increased, with billions of transistors available in a single chip, and thus the complexity of the digital design. As a consequence, the development effort/time increased and accordingly the possibility of the existence of hardware bugs. In order to avoid passing these bugs to real silicon hardware, Synopsys, a leading company in Electronic Design Automation (EDA) and Semiconductor IP (Intellectual Property) and one of the responsible companies for this technological evolution, has a IP Prototyping Kit (IPK) team. The IPK team creates rapid prototypes of these circuits in Field Programmable Gate Arrays (FPGA) systems and other platforms. During system integration in FPGA, it is used simulation/testbenches in SystemVerilog (SV), and tests on real hardware to aid design and debugging. The IPK allows a software and hardware integration in an early stage of the project. However, the prototyping can be a complicated and slow process. To help engineers to accelerate this development, it was proposed the creation of a C based test environment, named DPI-C (Direct Programming Interface in C), compatible with SystemVerilog and hardware platform tests. This environment, also known as C-Tests, uses the same test case on both platforms as an input parameter. The aim is to obtain the same results, easing the comparison between them and helping to understand and solving the existing problems. | pt_PT |
| dc.identifier.tid | 202166775 | pt_PT |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10400.22/14105 | |
| dc.language.iso | eng | pt_PT |
| dc.subject | Synopsys | pt_PT |
| dc.subject | IPK | pt_PT |
| dc.subject | DPI-C | pt_PT |
| dc.subject | C-test | pt_PT |
| dc.subject | Hardware | pt_PT |
| dc.subject | Validação | pt_PT |
| dc.subject | Validation | pt_PT |
| dc.title | Development of a DPI-C Test Environment | pt_PT |
| dc.type | master thesis | |
| dspace.entity.type | Publication | |
| rcaap.rights | openAccess | pt_PT |
| rcaap.type | masterThesis | pt_PT |
| thesis.degree.name | Mestrado em Engenharia Eletrotécnica e de Computadores | pt_PT |