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- An HDL Approach to Board-Level BISTPublication . Alves, Gustavo R.; Gericota, Manuel G.; Ramalho, José L.; Ferreira, José M.Boundary scan is now the most promising technology for testing high-complexity printed circuit boards. The number of BST components available to board-level designers is however still restricted, limiting the achievable fault coverage. The requirements to improve board-level testability are analysed, and a corresponding set of testability building blocks are proposed. A low-cost and maximum-flexibility solution is described, which implements these blocks on medium-complexity PLDs, using a simple and powerful HDL.
- Sistema Modular para o Teste de Cartas de Circuito Impresso com BSTPublication . Alves, Gustavo R.; Gericota, Manuel; Ramalho, Jose L.; Ferreira, Jose M.Esta comunicação apresenta a arquitectura física de um sistema modular para o teste e validação de Cartas de Circuito Impresso (CCI) que disponham de uma infraestrutura compatível com a norma IEEE 1149.1, vulgarmente designada por Boundary Scan Test (BST). A arquitectura global do sistema compreende ainda um nível lógico constituído por um pacote de apoio informático para a geração automática de programas de teste.