Alves, Gustavo R.Ferreira, José M.2025-02-212025-02-211999-09Gustavo R. Alves e José M. Martins Ferreira, “Projeto para o Teste e Depuração com Base nas Arquiteturas IEEE 1149.1 e 1149.4”, 1ª Jornadas Científicas do Instituto Superior de Engenharia do Porto, ISEP, Porto, Setembro 1999.http://hdl.handle.net/10400.22/29644A infraestrutura Boundary Scan Test (BST), definida na norma IEEE 1149.1, tem sido tradicionalmente utilizada para o teste estrutural de Cartas de Circuito Impresso (CCI) na fase de produção. O seu aparecimento deveu-se, entre outras razões, à crescente dificuldade das tradicionais tecnologias de teste de CCI (o teste in-circuit e o teste funcional) em lidar com os novos tipos de encapsulamento de Circuitos Integrados (CI) e com a sua crescente complexidade. A utilização de CI de montagem superficial veio reduzir o distanciamento entre os pinos e permitir a montagem de componentes em ambos os lados da CCI, dificultando assim o acesso físico requerido pelo teste in- circuit. A crescente complexidade veio por sua vez dificultar a propagação de valores no interior da CCI, diminuindo assim a qualidade do teste funcional.porBoundary scanTeste eletrónicoDepuraçãoJTAG1149.1conference paper